ADC芯片性能测试逻辑和软件平台

           ADC芯片性能测试逻辑和软件平台                     
  一、系统描述

  本项目主要开发一款基于XilinxML605以及FMC扩展ADC采集板架构的ADC芯片测试平台，任务包括逻辑开发以及相关软件开发。

  逻辑部分包括以下部分：

  1.基于XILINXML605开发板。

  2.支持扩展FMC子板，支持16bit250Msps以及14bit400MspsADC输入。

  3.ADC输入接口支持数据/时钟相位动态自适应调整。

  4.支持64位宽DDR3控制器，数据率为DDR31066MHz-1000MHz。

  5.支持PCIE1.0x8，支持PCIeDMA操作，PCIex8模式下，DMA传输速率为1000MB/s左右。

  6.数据传输模式支持数据长度模式可以配置。

  7.通过SPI配置周边器件，支持8位、16位、24位及32位协议，支持上沿和下沿选择。

  二、逻辑系统框图

  三、关于模拟前端接口逻辑：

  模拟前端接口同外部模拟端口连接，接口模块分为phy和控制逻辑部分：

  ADC接口随路时钟支持动态相位调整，系统初始化或温度变化时，会采用自适应的方法动态调整随路时钟和ADC数据的相位关系，保证数据采集的正确性。结构如下：

  ADC通道分别设置每个通道工作或不工作，状态可读：通道当前激活状态以及ADC数据是否溢出。

  128位宽数据输出下每个采样点10-16位宽格式

  l单通道数据格式：

  A0A1A2A3A4A5A6A7

  A8A9A10A11A12A13A14A15

  ........

  四、关于DDR3SDRAM

  MemoryController核心模块采用MIG。模块对接TXFIFO和RXFIFO，采用多通道形式，通过内部高速总线互联，总线具有仲裁功能；支持ADC通道和PCIEDMA通道同时申请读写DDR3存储设备。

  其组成形式如下图所示：

  五、关于采集模式：

  采集模式支持标准工作模式：

  标准工作模式设置：

  设置单次采集长度Mem-size；

  设置触发Post-trigger点数；

  Pre-trigger=mem-size-Post-trigger

  采集过程如下所示：

  六、关于触发模式

  软件触发：

  通过PC及控制软件产生触发信号。

  七、外部控制接口

  外部控制接口/通信接口主要包括以下部分：

  1．SPIMaster

  2．GPIO/DIO

  八、PCIE总线部分

  PCIE控制器主要分为两部分：

  1.PCIEendpoint，采用XilinxFPGA中的硬核完成。

  2.PCIEDMA部分，需要开发，完成符合项目需求的DMA控制器逻辑单元。

  为了扩展需要PCIE模块支持1x、4x和8x传输，PCIE模块结构如下图：

  九、关于系统软件

  同逻辑配套的系统软件功能如下：

  1.支持Windows32bit/Windows64bit的设备驱动。

  2.支持LabView。

  3.提供CommonLibrary支持基本操作。

  4.提供TextbasedAppication例程，支持VisualC++。

  整体结构如下：

  2.驱动程序函数定义：

  lhOpen()openHWdevice

  lhClosecloseopeneddevice

  lSetParam_i32setsoftwareregister(32bit)

  lSetParam_i64setsoftwareregister(64bit)

  lGetParam_i32getsoftwareregister(32bit)

  lGetParam_i64getsoftwareregister(64bit)

  lDefTransferdefineabufferforafollowingdatatransfer

  lGetErrorInfothefunctionreturnscompleteerror

  十、ADC性能测试：

  采集控制设置：

  l采集长度

  l采样率

  l开始/停止

  ADC动态指标测试如下图：

  ADC静态指标测试如下图：