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QT.65XX系列任意波形发生卡在绝缘材料FDS测试系统中的应用案例

QT.65XX系列任意波形发生卡在绝缘材料FDS测试系统中的应用案例

频域介电谱(Frequency Domain Spectroscopy,FDS)是一种先进、非破坏性的介电响应测试方法。该方法通过对绝缘材料施加宽频带的交流激励信号,并测量其复介电常数(介电常数实部与虚部)随频率的变化关系,评估变压器、电缆、GIS等电力设备的绝缘状态、老化程度和含水量。FDS技术为电力系统的预防性维... 【更多详情】