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数据采集卡在超声扫描显微镜(SAM)中的应用案例

数据采集卡在超声扫描显微镜(SAM)中的应用案例

技术背景 超声显微成像是工业精密制造领域的关键质量控制技术,如在材料科学和生物医学等前沿领域广泛应用。该技术通过发射高频超声脉冲并分析其反射回波,可实现对材料内部微米级缺陷(如气孔、裂纹、虚焊)的非破坏性可视化检测。 超声显微成像采用的探头频率通常高达数十至数百MHz,为精确提取回波... 【更多详情】